ຊັ້ນ epitaxial ແມ່ນຟິມບາງໆຜລຶກດຽວສະເພາະທີ່ເຕີບໃຫຍ່ຢູ່ເທິງຊັ້ນວາງແຜ່ນ wafer ໂດຍຜ່ານຂະບວນການ epitaxial; ແຜ່ນ wafer ຊັ້ນວາງ ແລະ ຟິມ epitaxial ແມ່ນເອີ້ນກັນວ່າແຜ່ນ wafer epitaxial. ໃນບັນດາສິ່ງເຫຼົ່ານີ້, ການເຕີບໂຕຊັ້ນ epitaxial ຂອງຊິລິກອນຄາໄບດ໌ເທິງຊັ້ນວາງຊິລິກອນຄາໄບດ໌ທີ່ນຳໄຟຟ້າໄດ້ຈະຜະລິດແຜ່ນ wafer epitaxial ຊິລິກອນຄາໄບດ໌ທີ່ເປັນເອກະພາບ, ເຊິ່ງສາມາດຜະລິດຕື່ມອີກເປັນອຸປະກອນພະລັງງານເຊັ່ນ: ໄດໂອດ Schottky, MOSFETs, ແລະ IGBTs. ປະເພດຊັ້ນວາງທີ່ໃຊ້ກັນຢ່າງກວ້າງຂວາງທີ່ສຸດແມ່ນຊັ້ນວາງ 4H-SiC.
ເນື່ອງຈາກອຸປະກອນເກືອບທັງໝົດແມ່ນຜະລິດຢູ່ໃນຊັ້ນ epitaxial, ຄຸນນະພາບຂອງຊັ້ນ epitaxial ມີຜົນກະທົບຢ່າງຫຼວງຫຼາຍຕໍ່ປະສິດທິພາບຂອງອຸປະກອນ. ຢ່າງໃດກໍຕາມ, ຄຸນນະພາບຂອງຊັ້ນ epitaxial ແມ່ນໄດ້ຮັບອິດທິພົນຈາກການປະມວນຜົນຂອງຜລຶກ ແລະ ຊັ້ນຮອງພື້ນ, ເຮັດໃຫ້ມັນຢູ່ໃນຈຸດທີ່ສຳຄັນໃນອຸດສາຫະກຳ ແລະ ມີບົດບາດສຳຄັນໃນການພັດທະນາຂອງມັນ.
ວິທີການຫຼັກສຳລັບການກະກຽມຊັ້ນ epitaxial ຊິລິກອນຄາໄບປະກອບມີ: ການວາງໄອນ້ຳ; epitaxy ໄລຍະແຫຼວ (LPE); epitaxy ລຳແສງໂມເລກຸນ (MBE); ແລະ ການວາງໄອນ້ຳເຄມີ (CVD). ໃນບັນດາສິ່ງເຫຼົ່ານີ້, ການວາງໄອນ້ຳເຄມີ (CVD) ແມ່ນວິທີການທີ່ໃຊ້ກັນຢ່າງກວ້າງຂວາງທີ່ສຸດສຳລັບ epitaxy ທີ່ເປັນເອກະພາບ 4H-SiC. epitaxy 4H-SiC CVD ໂດຍປົກກະຕິແລ້ວຈະໃຊ້ອຸປະກອນ CVD, ເຊິ່ງຮັບປະກັນຄວາມຕໍ່ເນື່ອງຂອງໂຄງສ້າງຜລຶກ 4H-SiC ພາຍໃຕ້ອຸນຫະພູມການເຕີບໂຕສູງ.
ໃນອຸປະກອນ CVD, ຊັ້ນຮອງບໍ່ສາມາດວາງໂດຍກົງໃສ່ໜ້າດິນໂລຫະ ຫຼື ພຽງແຕ່ວາງໄວ້ເທິງພື້ນຖານສຳລັບການວາງຊັ້ນ epitaxial ໄດ້, ເພາະວ່າມັນກ່ຽວຂ້ອງກັບປັດໄຈທີ່ມີອິດທິພົນຕ່າງໆເຊັ່ນ: ທິດທາງການໄຫຼຂອງອາຍແກັສ (ແນວນອນ, ແນວຕັ້ງ), ອຸນຫະພູມ, ຄວາມກົດດັນ, ການຍຶດຕິດ, ແລະ ການປົນເປື້ອນຈາກອະນຸພາກທີ່ຫຼົ່ນລົງ. ດັ່ງນັ້ນ, ຕ້ອງມີພື້ນຖານຮອງຮັບ; ຊັ້ນຮອງຖືກວາງໄວ້ເທິງຖາດ, ແລະ ຫຼັງຈາກນັ້ນການວາງຊັ້ນ epitaxial ຈະຖືກປະຕິບັດຢູ່ເທິງຊັ້ນຮອງໂດຍໃຊ້ເທັກໂນໂລຢີ CVD. ພື້ນຖານຮອງຮັບນີ້ແມ່ນພື້ນຖານ graphite ເຄືອບ SiC.
ໃນຖານະເປັນອົງປະກອບຫຼັກ, ຊັ້ນຮອງພື້ນແກຣໄຟທ໌ມີຄວາມແຂງແຮງສະເພາະສູງ ແລະ ໂມດູລັດສະເພາະ, ພ້ອມທັງມີຄວາມຕ້ານທານຄວາມຮ້ອນ ແລະ ການກັດກ່ອນທີ່ດີ. ຢ່າງໃດກໍຕາມ, ໃນລະຫວ່າງການຜະລິດ, ແກຣໄຟທ໌ຈະເກີດການກັດກ່ອນ ແລະ ການຫຼົ່ນຂອງຜົງຍ້ອນອາຍແກັສທີ່ກັດກ່ອນ ແລະ ສານປະກອບອໍແກນິກໂລຫະທີ່ເຫຼືອຢູ່, ເຊິ່ງເຮັດໃຫ້ອາຍຸການໃຊ້ງານຂອງຊັ້ນຮອງພື້ນຫຼຸດລົງຢ່າງຫຼວງຫຼາຍ. ໃນເວລາດຽວກັນ, ຜົງແກຣໄຟທ໌ທີ່ຫຼົ່ນອອກມາສາມາດປົນເປື້ອນຊິບໄດ້. ໃນການຜະລິດແຜ່ນເວເຟີ epitaxial ຊິລິກອນຄາໄບ, ມັນໄດ້ກາຍເປັນເລື່ອງຍາກຂຶ້ນທີ່ຈະຕອບສະໜອງຄວາມຕ້ອງການທີ່ເຂັ້ມງວດກວ່າເກົ່າສຳລັບວັດສະດຸແກຣໄຟທ໌, ເຊິ່ງຈຳກັດການພັດທະນາ ແລະ ການນຳໃຊ້ຕົວຈິງຂອງພວກມັນຢ່າງຮ້າຍແຮງ. ດັ່ງນັ້ນ,ເຕັກໂນໂລຊີການເຄືອບໄດ້ກາຍເປັນວິທີແກ້ໄຂ.
ຂໍ້ດີຂອງການເຄືອບ SiC ໃນອຸດສາຫະກໍາເຄິ່ງຕົວນໍາ
ຄຸນສົມບັດທາງກາຍະພາບ ແລະ ເຄມີຂອງການເຄືອບຕ້ອງຕອບສະໜອງຄວາມຕ້ອງການທີ່ເຂັ້ມງວດສຳລັບຄວາມຕ້ານທານອຸນຫະພູມສູງ ແລະ ການກັດກ່ອນ, ຍ້ອນວ່າສິ່ງເຫຼົ່ານີ້ສົ່ງຜົນກະທົບໂດຍກົງຕໍ່ຜົນຜະລິດ ແລະ ອາຍຸການໃຊ້ງານຂອງຜະລິດຕະພັນ. ວັດສະດຸ SiC ມີຄວາມແຂງແຮງສູງ, ຄວາມແຂງສູງ, ຄ່າສຳປະສິດການຂະຫຍາຍຕົວທາງຄວາມຮ້ອນຕ່ຳ, ແລະ ການນຳຄວາມຮ້ອນທີ່ດີເລີດ, ເຮັດໃຫ້ມັນເປັນວັດສະດຸໂຄງສ້າງ ແລະ ເຄິ່ງຕົວນຳທີ່ອຸນຫະພູມສູງທີ່ສຳຄັນ. ເມື່ອນຳໃຊ້ກັບວັດສະດຸ graphite, ຂໍ້ດີຂອງມັນລວມມີ:
1) SiC ທົນທານຕໍ່ການກັດກ່ອນ ແລະ ສາມາດຫຸ້ມຫໍ່ຊັ້ນໃຕ້ດິນແກຣໄຟໄດ້ຢ່າງສົມບູນ. ຄວາມໜາແໜ້ນສູງຂອງມັນປ້ອງກັນຄວາມເສຍຫາຍຈາກອາຍແກັສທີ່ກັດກ່ອນ.
2) SiC ມີຄວາມນຳຄວາມຮ້ອນສູງ ແລະ ມີຄວາມແຂງແຮງໃນການຍຶດຕິດກັບຊັ້ນຮອງຫີນແກຣໄຟ, ຮັບປະກັນວ່າຊັ້ນເຄືອບຍັງຄົງຢູ່ເຖິງແມ່ນວ່າຈະຜ່ານຮອບວຽນອຸນຫະພູມສູງ-ຕໍ່າຊ້ຳໆ.
3) SiC ມີຄວາມໝັ້ນຄົງທາງເຄມີທີ່ດີເລີດ, ປ້ອງກັນການລົ້ມເຫຼວຂອງຊັ້ນເຄືອບໃນອຸນຫະພູມສູງ ແລະ ບັນຍາກາດທີ່ກັດກ່ອນ.
ນອກຈາກນັ້ນ, ເຕົາເຜົາແບບ epitaxial ທີ່ເຮັດດ້ວຍວັດສະດຸທີ່ແຕກຕ່າງກັນຕ້ອງການຖາດ graphite ທີ່ມີຂໍ້ກຳນົດການປະຕິບັດສະເພາະ. ສຳປະສິດການຂະຫຍາຍຕົວທາງຄວາມຮ້ອນຂອງວັດສະດຸ graphite ຕ້ອງເຂົ້າກັນໄດ້ກັບອຸນຫະພູມການເຕີບໂຕຂອງເຕົາເຜົາແບບ epitaxial. ຕົວຢ່າງ, ເນື່ອງຈາກອຸນຫະພູມການເຕີບໂຕສຳລັບ epitaxial ຊິລິກອນຄາໄບແມ່ນສູງ, ຖາດທີ່ມີລະດັບການຈັບຄູ່ສຳປະສິດການຂະຫຍາຍຕົວທາງຄວາມຮ້ອນສູງແມ່ນຈຳເປັນ. ສຳປະສິດການຂະຫຍາຍຕົວທາງຄວາມຮ້ອນຂອງ SiC ແຕກຕ່າງກັນໜ້ອຍຫຼາຍຈາກ graphite, ເຮັດໃຫ້ມັນເປັນວັດສະດຸທີ່ຕ້ອງການສຳລັບການເຄືອບພື້ນຜິວຂອງຊັ້ນຮອງ graphite.
SiC ມີຢູ່ໃນຫຼາຍຮູບແບບຜລຶກ, ໂດຍທີ່ປະຈຸບັນພົບເຫັນຫຼາຍທີ່ສຸດແມ່ນປະເພດ 3C, 4H, ແລະ 6H, ແຕ່ລະອັນໃຫ້ບໍລິການທີ່ແຕກຕ່າງກັນ. ຕົວຢ່າງ, 4H-SiC ຖືກນຳໃຊ້ເພື່ອຜະລິດອຸປະກອນພະລັງງານສູງ; 6H-SiC ແມ່ນໝັ້ນຄົງທີ່ສຸດ ແລະ ຖືກນຳໃຊ້ເພື່ອຜະລິດອຸປະກອນອອບໂຕເອເລັກໂຕຣນິກ; ແລະ 3C-SiC, ເນື່ອງຈາກໂຄງສ້າງທີ່ຄ້າຍຄືກັນກັບ GaN, ຖືກນຳໃຊ້ເພື່ອຜະລິດຊັ້ນ epitaxial GaN ສຳລັບການຜະລິດອຸປະກອນ RF SiC-GaN. 3C-SiC ຍັງຖືກເອີ້ນທົ່ວໄປວ່າ β-SiC. ການນຳໃຊ້ທີ່ສຳຄັນຂອງ β-SiC ແມ່ນເປັນວັດສະດຸຟິມບາງ ແລະ ເຄືອບ; ດັ່ງນັ້ນ, β-SiC ໃນປະຈຸບັນແມ່ນວັດສະດຸຫຼັກທີ່ໃຊ້ສຳລັບການເຄືອບ.
ໃນຖານະທີ່ເປັນວັດສະດຸບໍລິໂພກທົ່ວໄປໃນການຜະລິດເຄິ່ງຕົວນຳ, ການເຄືອບ SiC ສ່ວນໃຫຍ່ແມ່ນໃຊ້ໃນຂະບວນການຕ່າງໆເຊັ່ນ: ການກະກຽມຊັ້ນຮອງ, epitaxy, ອົກຊີເດຊັນ ແລະ ການແຜ່ກະຈາຍ, ການແກະສະຫຼັກ, ແລະ ການຝັງໄອອອນ. ຄຸນສົມບັດທາງກາຍະພາບ ແລະ ເຄມີຂອງການເຄືອບຕ້ອງຕອບສະໜອງຄວາມຕ້ອງການທີ່ເຂັ້ມງວດສຳລັບຄວາມຕ້ານທານອຸນຫະພູມສູງ ແລະ ຄວາມຕ້ານທານການກັດກ່ອນ, ຍ້ອນວ່າສິ່ງເຫຼົ່ານີ້ສົ່ງຜົນກະທົບໂດຍກົງຕໍ່ຜົນຜະລິດ ແລະ ອາຍຸການໃຊ້ງານຂອງຜະລິດຕະພັນ. ດັ່ງນັ້ນ, ການກະກຽມການເຄືອບ SiC ຈຶ່ງມີຄວາມສຳຄັນຫຼາຍ.
ຂະບວນການກະກຽມການເຄືອບຊິລິກອນຄາໄບ
ປະຈຸບັນ, ວິທີການຫຼັກສຳລັບການກະກຽມການເຄືອບ SiC ປະກອບມີວິທີການ sol-gel, ວິທີການຝັງ, ການເຄືອບແປງ, ການສີດພົ່ນ plasma, ປະຕິກິລິຍາໄອເຄມີ (CVR), ແລະ ການວາງໄອເຄມີ (CVD).
ວິທີການຝັງ
ວິທີການນີ້ແມ່ນການເຜົາແບບແຂງຊະນິດໜຶ່ງທີ່ມີອຸນຫະພູມສູງ. ສ່ວນໃຫຍ່ແລ້ວມັນໃຊ້ສ່ວນປະສົມຂອງຜົງຊິລິໂຄນ (Si) ແລະ ຜົງຄາບອນ (C) ເປັນຜົງຝັງ. ຊັ້ນຮອງກຣາໄຟທ໌ຖືກວາງໄວ້ພາຍໃນຜົງຝັງ ແລະ ເຜົາທີ່ອຸນຫະພູມສູງໃນບັນຍາກາດອາຍແກັສທີ່ບໍ່ມີປະຕິກິລິຍາ, ໃນທີ່ສຸດຈະສ້າງເປັນຊັ້ນ SiC ເທິງໜ້າດິນຂອງຊັ້ນຮອງກຣາໄຟທ໌. ວິທີການນີ້ມີຂະບວນການທີ່ງ່າຍດາຍ ແລະ ການຍຶດຕິດທີ່ດີລະຫວ່າງຊັ້ນເຄືອບ ແລະ ຊັ້ນຮອງ; ຢ່າງໃດກໍຕາມ, ຊັ້ນເຄືອບມີຄວາມເປັນເອກະພາບທີ່ບໍ່ດີຕາມທິດທາງຄວາມໜາ ແລະ ມີແນວໂນ້ມທີ່ຈະພັດທະນາຮູຂຸມຂົນຫຼາຍ, ເຊິ່ງສົ່ງຜົນໃຫ້ມີຄວາມຕ້ານທານການຜຸພັງທີ່ບໍ່ດີ.
ວິທີການເຄືອບແປງ
ວິທີການເຄືອບແປງສ່ວນໃຫຍ່ແມ່ນການໃຊ້ວັດຖຸດິບແຫຼວໃສ່ໜ້າຜິວຂອງຊັ້ນຮອງພື້ນ graphite, ຈາກນັ້ນໂດຍການແຂງຕົວວັດສະດຸໃນອຸນຫະພູມສະເພາະເພື່ອສ້າງຊັ້ນເຄືອບ. ວິທີການນີ້ແມ່ນງ່າຍດາຍ ແລະ ມີປະສິດທິພາບດ້ານຄ່າໃຊ້ຈ່າຍ; ຢ່າງໃດກໍຕາມ, ຊັ້ນເຄືອບທີ່ໄດ້ຮັບສະແດງໃຫ້ເຫັນການຍຶດຕິດທີ່ອ່ອນແອກັບຊັ້ນຮອງພື້ນ, ຄວາມສະໝໍ່າສະເໝີທີ່ບໍ່ດີ, ແລະ ຂ້ອນຂ້າງບາງ ແລະ ມີຄວາມຕ້ານທານການຜຸພັງຕ່ຳ, ເຊິ່ງຈຳເປັນຕ້ອງມີວິທີການເສີມ.
ວິທີການສີດພົ່ນພລາສມາ
ວິທີການສີດພົ່ນພລາສມາກ່ຽວຂ້ອງກັບການໃຊ້ປືນພລາສມາເພື່ອສີດວັດຖຸດິບທີ່ລະລາຍ ຫຼື ເຄິ່ງລະລາຍໃສ່ໜ້າຜິວຂອງຊັ້ນຮອງກຣາໄຟ, ເຊິ່ງຫຼັງຈາກນັ້ນຈະແຂງຕົວ ແລະ ຍຶດຕິດກັນເພື່ອສ້າງເປັນຊັ້ນເຄືອບ. ວິທີການນີ້ງ່າຍຕໍ່ການໃຊ້ງານ ແລະ ສາມາດຜະລິດຊັ້ນເຄືອບຊິລິກອນຄາໄບທີ່ໜາແໜ້ນພໍສົມຄວນ; ຢ່າງໃດກໍຕາມ, ຊັ້ນເຄືອບທີ່ໄດ້ຮັບມັກຈະບາງເກີນໄປ, ເຊິ່ງນຳໄປສູ່ຄວາມຕ້ານທານການຜຸພັງທີ່ບໍ່ດີ. ດັ່ງນັ້ນ, ໂດຍທົ່ວໄປແລ້ວມັນຈຶ່ງຖືກນໍາໃຊ້ໃນການກະກຽມຊັ້ນເຄືອບປະສົມ SiC ເພື່ອປັບປຸງຄຸນນະພາບຊັ້ນເຄືອບ.
ວິທີການເຈວ-ໂຊລ
ວິທີການເຈວ-ໂຊລ ສ່ວນໃຫຍ່ແມ່ນການກະກຽມສານລະລາຍໂຊລທີ່ໂປ່ງໃສ ແລະ ເປັນເອກະພາບເພື່ອເຄືອບພື້ນຜິວຂອງຊັ້ນຮອງພື້ນ. ຫຼັງຈາກແຫ້ງເປັນເຈວແລ້ວ, ວັດສະດຸຈະຖືກເຜົາເພື່ອສ້າງເປັນຊັ້ນເຄືອບ. ວິທີການນີ້ແມ່ນງ່າຍຕໍ່ການໃຊ້ງານ ແລະ ມີລາຄາຖືກ; ຢ່າງໃດກໍຕາມ, ຊັ້ນເຄືອບທີ່ໄດ້ຮັບມີຂໍ້ເສຍເຊັ່ນ: ຄວາມຕ້ານທານການຊ໊ອກຄວາມຮ້ອນຕໍ່າ ແລະ ມີແນວໂນ້ມທີ່ຈະແຕກ, ເຊິ່ງຈຳກັດການນຳໃຊ້ຢ່າງກວ້າງຂວາງຂອງພວກມັນ.
ວິທີການປະຕິກິລິຍາໄອເຄມີ (CVR)
CVR ສ່ວນໃຫຍ່ໃຊ້ຜົງ Si ແລະ SiO₂ ເພື່ອສ້າງໄອ SiO₂ ໃນອຸນຫະພູມສູງ, ເຊິ່ງກະຕຸ້ນປະຕິກິລິຍາເຄມີຊຸດໜຶ່ງຢູ່ເທິງໜ້າດິນຂອງຊັ້ນຮອງ Si ເພື່ອສ້າງເປັນຊັ້ນເຄືອບ SiC. ຊັ້ນເຄືອບ SiC ທີ່ຜະລິດໂດຍວິທີການນີ້ຈະຍຶດຕິດກັບຊັ້ນຮອງຢ່າງແໜ້ນໜາ; ຢ່າງໃດກໍຕາມ, ອຸນຫະພູມປະຕິກິລິຍາແມ່ນສູງ, ແລະຄ່າໃຊ້ຈ່າຍກໍ່ຂ້ອນຂ້າງສູງ.
ການຕົກຕະກອນໄອນ້ຳທາງເຄມີ (CVD)
ປະຈຸບັນ CVD ແມ່ນເຕັກໂນໂລຊີຫຼັກສຳລັບການກະກຽມການເຄືອບ SiC ເທິງໜ້າຜິວຂອງຊັ້ນວາງ. ຂະບວນການຫຼັກກ່ຽວຂ້ອງກັບປະຕິກິລິຍາທາງຟີຊິກ-ເຄມີລະຫວ່າງສານຕັ້ງຕົ້ນອາຍແກັສ ແລະ ໜ້າຜິວຂອງຊັ້ນວາງ, ໃນທີ່ສຸດກໍ່ເຮັດໃຫ້ເກີດການຕົກຕະກອນຂອງຊັ້ນວາງ SiC. ການເຄືອບ SiC ທີ່ຜະລິດໂດຍເຕັກໂນໂລຊີ CVD ຈະຍຶດຕິດກັບໜ້າຜິວຂອງຊັ້ນວາງຢ່າງແໜ້ນໜາ ແລະ ສາມາດປັບປຸງຄວາມຕ້ານທານການຜຸພັງ ແລະ ຄວາມຕ້ານທານການລະລາຍຂອງວັດສະດຸຊັ້ນວາງໄດ້ຢ່າງມີປະສິດທິພາບ; ຢ່າງໃດກໍຕາມ, ວິທີການນີ້ຕ້ອງໃຊ້ເວລາໃນການຕົກຕະກອນທີ່ຂ້ອນຂ້າງຍາວ, ແລະ ອາຍແກັສປະຕິກິລິຍາມີສ່ວນປະກອບທີ່ເປັນພິດບາງຢ່າງ.
ແນວໂນ້ມໃນການເຄືອບ SiC
ການເຄືອບ SiC ສ່ວນໃຫຍ່ແມ່ນໃຊ້ເປັນວັດສະດຸບໍລິໂພກໃນການຜະລິດເຄິ່ງຕົວນຳ, ໂດຍມີຕົວຊີ້ວັດປະສິດທິພາບທີ່ສຳຄັນລວມທັງຄວາມສະໝໍ່າສະເໝີຂອງການເຄືອບ, ສຳປະສິດການຂະຫຍາຍຕົວທາງຄວາມຮ້ອນ, ແລະ ການນຳຄວາມຮ້ອນ. ໃນຂະນະທີ່ມີຄວາມຕ້ອງການພາຍໃນປະເທດທີ່ສຳຄັນສຳລັບການເຄືອບ SiC ໃນປະເທດຈີນ, ເຕັກໂນໂລຊີຍັງບໍ່ທັນພັດທະນາເທື່ອ. ໃນຕ່າງປະເທດ, ມີພຽງແຕ່ບໍລິສັດດຽວຂອງສະຫະລັດທີ່ດຳເນີນທຸລະກິດໃນຂົງເຂດນີ້, ແລະ ຜະລິດຕະພັນຂອງມັນມີລາຄາແພງ.
ເຮືອແກ້ວແມ່ນວັດສະດຸບໍລິໂພກທີ່ໃຊ້ໃນການຜະລິດແບບ epitaxial ທີ່ສາມາດທົດແທນ graphite ທີ່ເຄືອບ SiC ໄດ້, ເຖິງແມ່ນວ່າປະລິມານຕະຫຼາດຈະມີໜ້ອຍ. ຕໍ່ໄປແມ່ນ graphite ທີ່ເຄືອບ TaC, ເຊິ່ງມີຄວາມຕ້ານທານການກັດກ່ອນທາງເຄມີໄດ້ດີກ່ວາ graphite ເປົ່າ ຫຼື graphite ທີ່ເຄືອບ SiC, ແຕ່ມັນມີລາຄາແພງຫຼາຍ ແລະ ຍັງຢູ່ໃນໄລຍະຕົ້ນໆຂອງການພັດທະນາ. ປະຈຸບັນ, ບໍລິສັດພາຍໃນປະເທດເຊັ່ນ:Liufang semiconductor, ເຊມິເຊຣາ, ແລະບໍລິສັດເວເທັກ ເຊມິຄອນດັກເຕີກຳລັງມີສ່ວນຮ່ວມໃນການຄົ້ນຄວ້າ ແລະ ພັດທະນາໃນຂົງເຂດນີ້.
ເວລາໂພສ: ພຶດສະພາ-20-2026