1. SiC-Kristallwachstumstechnologie
PVT (Sublimationsverfahren),
HTCVD (Hochtemperatur-CVD),
LPE(Flüssigphasenmethode)
sind drei gemeinsameSiC-KristallWachstumsmethoden;
Die in der Branche am weitesten verbreitete Methode ist die PVT-Methode, und mehr als 95 % der SiC-Einkristalle werden mit der PVT-Methode gezüchtet.
IndustrialisiertSiC-KristallDer Wachstumsofen nutzt die in der Branche gängige PVT-Technologie.
2. SiC-Kristallwachstumsprozess
Pulversynthese-Kristallkeimbehandlung-Kristallwachstum-Ingotglühen-WaferVerarbeitung.
3. PVT-Methode zum WachsenSiC-Kristalle
Der SiC-Rohstoff befindet sich am Boden des Graphittiegels, der SiC-Keimkristall am oberen Ende. Durch die Anpassung der Isolierung ist die Temperatur am SiC-Rohstoff höher und die am Impfkristall niedriger. Der SiC-Rohstoff sublimiert bei hohen Temperaturen und zersetzt sich in gasförmige Substanzen, die zum Impfkristall mit niedrigerer Temperatur transportiert werden und dort zu SiC-Kristallen kristallisieren. Der grundlegende Wachstumsprozess umfasst drei Prozesse: Zersetzung und Sublimation der Rohstoffe, Stoffaustausch und Kristallisation an Impfkristallen.
Zersetzung und Sublimation von Rohstoffen:
SiC(S)= Si(g)+C(S)
2SiC(S)= Si(g)+ SiC2(g)
2SiC(S)=C(S)+SiC2(g)
Während des Massentransfers reagiert der Si-Dampf weiter mit der Graphittiegelwand und bildet SiC2 und Si2C:
Si(g)+2C(S) =SiC2(g)
2Si(g) + C(S)=Si2C(g)
Auf der Oberfläche des Impfkristalls wachsen die drei Gasphasen nach den folgenden zwei Formeln, um Siliziumkarbidkristalle zu erzeugen:
SiC2(G)+Si2C(G)=3SiC(S)
Si(G)+SiC2(G)=2SiC(S)
4. PVT-Methode zum Züchten von SiC-Kristallen – Technologieweg für Züchtungsgeräte
Derzeit ist die Induktionserwärmung ein gängiger Technologieansatz für SiC-Kristallzüchtungsöfen mit der PVT-Methode.
Spule externe Induktionsheizung und Graphit Widerstand Heizung sind die Entwicklungsrichtung vonSiC-KristallWachstumsöfen.
5. 8-Zoll-SiC-Induktionsheizofen
(1) Erhitzen derGraphittiegel Heizkörperdurch Magnetfeldinduktion; Regulierung des Temperaturfeldes durch Anpassung der Heizleistung, Spulenposition und Isolationsstruktur;
(2) Erhitzen des Graphittiegels durch Graphitwiderstandsheizung und Wärmestrahlungsleitung; Steuern des Temperaturfelds durch Einstellen des Stroms des Graphitheizgeräts, der Struktur des Heizgeräts und der Zonenstromsteuerung;
6. Vergleich von Induktionserwärmung und Widerstandserwärmung
Veröffentlichungszeit: 21. November 2024



