Estructuras epitaxiales de arseniuro-fosfuro de galio, similares a las estructuras producidas del sustrato tipo ASP (ET0.032.512TU), para la fabricación de cristales LED rojos planares.
Parámetro técnico básico
a estructuras de arseniuro-fosfuro de galio
| 1, Sustrato de GaAs | |
| a. Tipo de conductividad | electrónico |
| b. Resistividad, ohmio-cm | 0,008 |
| c. Orientación de la red cristalina | (100) |
| d. Desorientación de la superficie | (1−3)° |
| 2. Capa epitaxial GaAs1-x Px | |
| a. Tipo de conductividad | electrónico |
| b. Contenido de fósforo en la capa de transición | desde x = 0 hasta x ≈ 0,4 |
| c. Contenido de fósforo en una capa de composición constante. | x ≈ 0,4 |
| d. Concentración del portador, cm3 | (0,2−3,0)·1017 |
| e. Longitud de onda en el máximo del espectro de fotoluminiscencia, nm | 645−673 nm |
| f. Longitud de onda en el máximo del espectro de electroluminiscencia | 650−675 nm |
| g. Espesor de capa constante, micras | Al menos 8 nm |
| h. Espesor de la capa (total), micras | Al menos 30 nm |
| 3 Placa con capa epitaxial | |
| a. Deflexión, micras | Como máximo 100 µm |
| b. Espesor, micras | 360−600 µm |
| c. Centímetro cuadrado | Al menos 6 cm2 |
| d. Intensidad luminosa específica (después de la difusión de Zn), cd/amperio | Al menos 0,05 cd/amperio |
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