-
Численное моделирование влияния пористого графита на рост кристаллов карбида кремния
Основной процесс роста кристаллов SiC разделяется на сублимацию и разложение исходных материалов при высокой температуре, транспортировку газофазных веществ под действием градиента температуры и рекристаллизационный рост газофазных веществ на затравочном кристалле. На этом основании...Читать далее -
Виды специального графита
Специальный графит — это графитовый материал высокой чистоты, высокой плотности и высокой прочности, обладающий превосходной коррозионной стойкостью, высокой температурной стабильностью и большой электропроводностью. Он изготавливается из натурального или искусственного графита после высокотемпературной термической обработки и обработки под высоким давлением...Читать далее -
Анализ оборудования для осаждения тонких пленок – принципы и применение оборудования PECVD/LPCVD/ALD
Тонкопленочное осаждение заключается в нанесении слоя пленки на основной материал подложки полупроводника. Эта пленка может быть изготовлена из различных материалов, таких как изолирующий состав диоксид кремния, полупроводниковый поликремний, металлическая медь и т. д. Оборудование, используемое для нанесения покрытия, называется тонкопленочным осаждением...Читать далее -
Важные материалы, определяющие качество роста монокристаллического кремния – тепловое поле
Процесс роста монокристаллического кремния полностью осуществляется в тепловом поле. Хорошее тепловое поле способствует повышению качества кристаллов и имеет более высокую эффективность кристаллизации. Конструкция теплового поля во многом определяет изменения градиентов температур...Читать далее -
Каковы технические сложности печи для выращивания кристаллов карбида кремния?
Печь для выращивания кристаллов является основным оборудованием для выращивания кристаллов карбида кремния. Она похожа на традиционную печь для выращивания кристаллов из кристаллического кремния. Конструкция печи не очень сложная. Она в основном состоит из корпуса печи, системы нагрева, механизма передачи катушки...Читать далее -
Каковы дефекты эпитаксиального слоя карбида кремния?
Основная технология роста эпитаксиальных материалов SiC — это, прежде всего, технология контроля дефектов, особенно для технологии контроля дефектов, которые склонны к отказу устройства или снижению надежности. Изучение механизма распространения дефектов подложки в эпитаксиальный слой...Читать далее -
Технология оксидированного стоячего зерна и эпитаксиального роста-Ⅱ
2. Эпитаксиальный рост тонкой пленки Подложка обеспечивает физический опорный слой или проводящий слой для силовых устройств Ga2O3. Следующий важный слой — это канальный слой или эпитаксиальный слой, используемый для сопротивления напряжению и транспорта носителей. Для увеличения напряжения пробоя и минимизации пробоя...Читать далее -
Технология выращивания монокристаллов и эпитаксиальных кристаллов оксида галлия
Широкозонные (WBG) полупроводники, представленные карбидом кремния (SiC) и нитридом галлия (GaN), получили широкое внимание. Люди возлагают большие надежды на перспективы применения карбида кремния в электромобилях и электросетях, а также на перспективы применения галлия...Читать далее -
Каковы технические барьеры для карбида кремния?Ⅱ
Технические трудности в стабильном массовом производстве высококачественных пластин карбида кремния со стабильными характеристиками включают в себя: 1) Поскольку кристаллы необходимо выращивать в высокотемпературной герметичной среде выше 2000°C, требования к контролю температуры чрезвычайно высоки; 2) Поскольку карбид кремния имеет ...Читать далее