SiC Epitaxial ကြီးထွားမှုအတွက် အဆင့်မြင့် CVD အလွှာများ
အလွန်အမင်း အပူဖိစီးမှု (1500°C - 1700°C) အောက်တွင် လည်ပတ်နေသော မြင့်မားသော ပါဝါရှိသော semiconductor device လုပ်ငန်းစဉ်များအတွက် စိတ်ကြိုက်ပြုလုပ်ထားသော ကျွန်ုပ်တို့၏ CVD SiC နှင့် TaC ဖြင့်အုပ်ထားသော ဂြိုဟ်အာရုံခံကိရိယာများ၊ ဂြိုလ်တုဒစ်ခ်များနှင့် ဓာတ်ငွေ့ဖယ်ထုတ်ကိရိယာများကို ထူးချွန်စေရန် တည်ဆောက်ထားပါသည်။ အမှုန်အမွှားများဖြစ်ပေါ်ခြင်း၊ မျက်နှာပြင်ပျက်စီးခြင်းနှင့် ဓာတ်ပြုဓာတ်ငွေ့ထွင်းခြင်း (H₂၊ SiH₄၊ C₃H∯) တို့ကို ကာကွယ်ရန် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသော ကျွန်ုပ်တို့၏ အဆင့်မြင့်အလွှာများသည် လည်ပတ်မှုသက်တမ်းရှည်ခြင်း၊ သာလွန်ကောင်းမွန်သော dopant ထိန်းချုပ်မှုနှင့် အလွှာအထူတူညီမှုကို သေချာစေသည်။၆ လက်မနှင့် ၈ လက်မ SiC epitaxial ဝေဖာများ.
H₂/silane လျှော့ချသည့် ပြင်းထန်သောပတ်ဝန်းကျင်တွင် 1700°C အထိ အပူချိန်တည်ငြိမ်သည်။
အပူမြန်ဆန်သော စက်ဝန်းများအတွင်း အပေါ်ယံလွှာ အက်ကွဲခြင်း၊ မိုက်ခရိုအက်ကွဲခြင်းနှင့် အက်ကွဲခြင်းတို့ကို ဖယ်ရှားပေးပါသည်။
နောက်မျိုးဆက် မြင့်မားသော စွမ်းဆောင်ရည်ရှိသော SiC Epi ဓာတ်ပေါင်းဖိုများ (LPE၊ Aixtron၊ Nuflare) အတွက် စိတ်ကြိုက်ပြုလုပ်ထားသော တိကျသော CNC စက်ဖြင့် ပြုပြင်ခြင်း။
| နည်းပညာဆိုင်ရာ ကန့်သတ်ချက် | သတ်မှတ်ချက်တန်ဖိုး | စံ / စမ်းသပ်နည်းလမ်း |
|---|---|---|
| အပေါ်ယံလွှာပစ္စည်းရွေးချယ်စရာများ | CVD SiC / တန္တလမ်ကာဗိုက် (TaC) | မြင့်မားသောသန့်စင်မှု Hermetic အလွှာ |
| အခြေခံအလွှာ | သန့်စင်ထားသော အိုင်ဆိုစတက်တစ် ဂရပ်ဖိုက် | အစုလိုက်အပြုံလိုက် မသန့်စင်မှု < 5 ppm |
| အပူဒဏ်ခံနိုင်ရည် | ဒယ်လ်တာ T > ၅၀၀°C အရှိန်မြှင့်နှုန်း | အက်ကွဲခြင်း/ကွာကျခြင်း မရှိပါ |
| မျက်နှာပြင်ကြမ်းတမ်းမှု (Ra) | ≤ ၀.၄ μm (မှန်ဖြင့် ඔප දැමීම) | ဝေဖာကပ်ခြင်းနှင့် အမှုန်အမွှားများကို ကာကွယ်ပေးသည် |
-
SiC အပေါ်ယံလွှာ ဂရပ်ဖိုက် MOCVD ဝေဖာသယ်ဆောင်သူ Susce...
-
SiC အုပ်ထားသော ဂရပ်ဖိုက်အခြေခံသယ်ဆောင်ကိရိယာများ
-
Si အတွက် အပေါ်နှင့်အောက် ဂရပ်ဖိုက်တစ်ဝက်လခြမ်း...
-
SiC ဖြင့်အုပ်ထားသော ဂရပ်ဖိုက် အာရုံခံကိရိယာနှင့် သယ်ဆောင်ကိရိယာ W...
-
ဆီလီကွန် C အတွက် SiC အုပ်ထားသော ဂရပ်ဖိုက် Halfmoon အပိုင်း...
-
SiC အုပ်ထားသော ဂရပ်ဖိုက် တစ်ဝက်လခြမ်း အစိတ်အပိုင်းနှင့် တပ်ဆင်ခြင်း...