SiC Epitaxial အစိတ်အပိုင်းများ

SiC Epitaxial ကြီးထွားမှုအတွက် အဆင့်မြင့် CVD အလွှာများ

အလွန်အမင်း အပူဖိစီးမှု (1500°C - 1700°C) အောက်တွင် လည်ပတ်နေသော မြင့်မားသော ပါဝါရှိသော semiconductor device လုပ်ငန်းစဉ်များအတွက် စိတ်ကြိုက်ပြုလုပ်ထားသော ကျွန်ုပ်တို့၏ CVD SiC နှင့် TaC ဖြင့်အုပ်ထားသော ဂြိုဟ်အာရုံခံကိရိယာများ၊ ဂြိုလ်တုဒစ်ခ်များနှင့် ဓာတ်ငွေ့ဖယ်ထုတ်ကိရိယာများကို ထူးချွန်စေရန် တည်ဆောက်ထားပါသည်။ အမှုန်အမွှားများဖြစ်ပေါ်ခြင်း၊ မျက်နှာပြင်ပျက်စီးခြင်းနှင့် ဓာတ်ပြုဓာတ်ငွေ့ထွင်းခြင်း (H₂၊ SiH₄၊ C₃H∯) တို့ကို ကာကွယ်ရန် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသော ကျွန်ုပ်တို့၏ အဆင့်မြင့်အလွှာများသည် လည်ပတ်မှုသက်တမ်းရှည်ခြင်း၊ သာလွန်ကောင်းမွန်သော dopant ထိန်းချုပ်မှုနှင့် အလွှာအထူတူညီမှုကို သေချာစေသည်။၆ လက်မနှင့် ၈ လက်မ SiC epitaxial ဝေဖာများ.

အလွန်မြင့်မားသော အပူချိန်တည်ငြိမ်မှု

H₂/silane လျှော့ချသည့် ပြင်းထန်သောပတ်ဝန်းကျင်တွင် 1700°C အထိ အပူချိန်တည်ငြိမ်သည်။

ရောင်ပြန် CTE ကိုက်ညီမှု

အပူမြန်ဆန်သော စက်ဝန်းများအတွင်း အပေါ်ယံလွှာ အက်ကွဲခြင်း၊ မိုက်ခရိုအက်ကွဲခြင်းနှင့် အက်ကွဲခြင်းတို့ကို ဖယ်ရှားပေးပါသည်။

၈ လက်မ ဝေဖာစကေး အသင့်ဖြစ်မှု

နောက်မျိုးဆက် မြင့်မားသော စွမ်းဆောင်ရည်ရှိသော SiC Epi ဓာတ်ပေါင်းဖိုများ (LPE၊ Aixtron၊ Nuflare) အတွက် စိတ်ကြိုက်ပြုလုပ်ထားသော တိကျသော CNC စက်ဖြင့် ပြုပြင်ခြင်း။

နည်းပညာဆိုင်ရာ ကန့်သတ်ချက် သတ်မှတ်ချက်တန်ဖိုး စံ / စမ်းသပ်နည်းလမ်း
အပေါ်ယံလွှာပစ္စည်းရွေးချယ်စရာများ CVD SiC / တန္တလမ်ကာဗိုက် (TaC) မြင့်မားသောသန့်စင်မှု Hermetic အလွှာ
အခြေခံအလွှာ သန့်စင်ထားသော အိုင်ဆိုစတက်တစ် ဂရပ်ဖိုက် အစုလိုက်အပြုံလိုက် မသန့်စင်မှု < 5 ppm
အပူဒဏ်ခံနိုင်ရည် ဒယ်လ်တာ T > ၅၀၀°C အရှိန်မြှင့်နှုန်း အက်ကွဲခြင်း/ကွာကျခြင်း မရှိပါ
မျက်နှာပြင်ကြမ်းတမ်းမှု (Ra) ≤ ၀.၄ μm (မှန်ဖြင့် ඔප දැමීම) ဝေဖာကပ်ခြင်းနှင့် အမှုန်အမွှားများကို ကာကွယ်ပေးသည်
WhatsApp အွန်လိုင်းချတ်!