Komponenti Miksija bis-SiC bis-CVD għall-Epitassija tas-Silikon (Si Epi)
Iddisinjati bi preċiżjoni għal sistemi ta' depożizzjoni Epitassjali tas-Silikon b'wejfer wieħed u f'lottijiet, is-susċetturi miksija bis-CVD SiC tagħna, id-diski satellitari, u l-komponenti tal-kamp termali jipprovdu uniformità termali eċċellenti u żero ħruġ ta' gass. Is-saff tal-kisi kubu β-SiC ta' densità għolja jinkapsula kompletament is-sottostrat tal-grafita ta' purità għolja, u jipprevjeni l-inċiżjoni reattiva tal-gass (SiH₄, SiH₂Cl₂, HCl) u jiggarantixxi livelli ta' impurità metallika ultra-baxxi (< 5 ppm) waqt l-ipproċessar Si Epi f'temperatura għolja (1000°C - 1200°C).
L-emissività kkontrollata tiżgura konsistenza preċiża tal-ħxuna tal-film mit-tarf saċ-ċentru tal-wejfer.
Jipprovdi protezzjoni robusta kontra kimiċi tat-tindif tal-kamra in situ u xokkijiet termali.
Magħmul bil-magni CNC ta' preċiżjoni biex jaqbel ma' għodod Epi mainstream ta' 200mm/300mm b'wejfer wieħed (Applied Materials, ASM).
| Parametru Tekniku | Valur tal-Ispeċifikazzjoni | Standard / Metodu tat-Test |
|---|---|---|
| Materjal tal-Kisi | CVD β-SiC (Fażi Kubika) | Struttura Kristallina ta' Densità Għolja |
| Materjal tas-Sottostrat | Grafita Iżostatika Ultra-Pura | Densità: 1.82 - 1.88 g/ċm³ |
| Purità Kimika | Impuritajiet Totali < 5 ppm | GDMS ittestjat |
| Ħxuna tal-Kisi | 80 μm - 150 μm | Uniformità ≤ ±5% |
-
Suċċettore tal-Barmil Miksi bis-SiC
-
Pjanċa tat-Trej tal-Grafita b'Kisi tal-Karbur tas-Silikon u...
-
Suċċettore tal-Barmil Miksi bis-SiC Personalizzat
-
Epitaxial Epi Graphite Barrel Susceptor
-
Barrel Susceptor Għall-LPE Epitaxy tal-Fażi Likwida
-
Karbur tas-Silikon reżistenti għall-korrużjoni miksi b'...
-
Użu ta' Trej ta' Folja Epitassjali Miksija bil-Karbur tas-Silikon...