Partijiet Epitassjali tas-Si

Komponenti Miksija bis-SiC bis-CVD għall-Epitassija tas-Silikon (Si Epi)

Iddisinjati bi preċiżjoni għal sistemi ta' depożizzjoni Epitassjali tas-Silikon b'wejfer wieħed u f'lottijiet, is-susċetturi miksija bis-CVD SiC tagħna, id-diski satellitari, u l-komponenti tal-kamp termali jipprovdu uniformità termali eċċellenti u żero ħruġ ta' gass. Is-saff tal-kisi kubu β-SiC ta' densità għolja jinkapsula kompletament is-sottostrat tal-grafita ta' purità għolja, u jipprevjeni l-inċiżjoni reattiva tal-gass (SiH₄, SiH₂Cl₂, HCl) u jiggarantixxi livelli ta' impurità metallika ultra-baxxi (< 5 ppm) waqt l-ipproċessar Si Epi f'temperatura għolja (1000°C - 1200°C).

Uniformità tal-Kamp Termali

L-emissività kkontrollata tiżgura konsistenza preċiża tal-ħxuna tal-film mit-tarf saċ-ċentru tal-wejfer.

Reżistenza għall-inċiżjoni tal-HCl

Jipprovdi protezzjoni robusta kontra kimiċi tat-tindif tal-kamra in situ u xokkijiet termali.

Kompatibilità tas-Sistema OEM

Magħmul bil-magni CNC ta' preċiżjoni biex jaqbel ma' għodod Epi mainstream ta' 200mm/300mm b'wejfer wieħed (Applied Materials, ASM).

Parametru Tekniku Valur tal-Ispeċifikazzjoni Standard / Metodu tat-Test
Materjal tal-Kisi CVD β-SiC (Fażi Kubika) Struttura Kristallina ta' Densità Għolja
Materjal tas-Sottostrat Grafita Iżostatika Ultra-Pura Densità: 1.82 - 1.88 g/ċm³
Purità Kimika Impuritajiet Totali < 5 ppm GDMS ittestjat
Ħxuna tal-Kisi 80 μm - 150 μm Uniformità ≤ ±5%
Chat Online fuq WhatsApp!