Si Epitaksiaj Partoj

CVD SiC-kovritaj komponantoj por silicia epitaksio (Si Epi)

Precize inĝenieritaj por unu-plataj kaj aro-siliciaj epitaksiaj deponaj sistemoj, niaj CVD-SiC-kovritaj susceptoroj, satelitaj diskoj kaj termikaj kampaj komponantoj liveras elstaran termikan homogenecon kaj nulan elgasadon. La alt-denseca kuba β-SiC-tega tavolo plene enkapsuligas la alt-purecan grafitan substraton, malhelpante reaktivan gasgravadon (SiH₄, SiH₂Cl₂, HCl) kaj garantiante ultra-malaltajn nivelojn de metalaj malpuraĵoj (< 5 ppm) dum alt-temperatura Si Epi-prilaborado (1000°C - 1200°C).

Termika Kampa Homogeneco

Kontrolita emisiemo certigas precizan konsistencon de la filmdikeco de rando al centro de la oblato.

HCl-Gravadrezisto

Provizas fortikan protekton kontraŭ surlokaj kemiaĵoj por purigado de ĉambroj kaj termikaj ŝokoj.

OEM-Sistema Kongrueco

Precize CNC-maŝinita por konveni al ĉefaj 200mm/300mm unu-plafitaj Epi-iloj (Applied Materials, ASM).

Teknika Parametro Specifa Valoro Normo / Testmetodo
Kovra Materialo CVD β-SiC (Kuba Fazo) Alt-denseca kristala strukturo
Substrata Materialo Ultra-Pura Izostata Grafito Denseco: 1,82 - 1,88 g/cm³
Kemia Pureco Totalaj Malpuraĵoj < 5 ppm GDMS testita
Tegaĵa Dikeco 80 μm - 150 μm Homogeneco ≤ ±5%
Reta babilejo per WhatsApp!