Si এপিট্যাক্সিয়াল অংশ

সিলিকন এপিট্যাক্সি (Si Epi) এর জন্য CVD SiC প্রলিপ্ত উপাদান

সিঙ্গেল-ওয়েফার এবং ব্যাচ সিলিকন এপিট্যাক্সিয়াল ডিপোজিশন সিস্টেমের জন্য নিখুঁতভাবে ডিজাইন করা আমাদের CVD SiC কোটিংযুক্ত সাসসেপ্টর, স্যাটেলাইট ডিস্ক এবং থার্মাল ফিল্ড কম্পোনেন্টগুলো চমৎকার তাপীয় সমরূপতা এবং শূন্য গ্যাস নির্গমন নিশ্চিত করে। উচ্চ-ঘনত্বের কিউবিক β-SiC কোটিং স্তরটি উচ্চ-বিশুদ্ধ গ্রাফাইট সাবস্ট্রেটকে সম্পূর্ণরূপে আবৃত করে রাখে, যা প্রতিক্রিয়াশীল গ্যাস দ্বারা এচিং (SiH₄, SiH₂Cl₂, HCl) প্রতিরোধ করে এবং উচ্চ-তাপমাত্রার Si Epi প্রক্রিয়াকরণের (1000°C - 1200°C) সময় অতি-নিম্ন ধাতব অপদ্রব্যের মাত্রা (< 5 ppm) নিশ্চিত করে।

তাপীয় ক্ষেত্রের অভিন্নতা

নিয়ন্ত্রিত বিকিরণ ক্ষমতা ওয়েফারের প্রান্ত থেকে কেন্দ্র পর্যন্ত ফিল্মের পুরুত্বের সুনির্দিষ্ট সামঞ্জস্য নিশ্চিত করে।

HCl এচ প্রতিরোধ

চেম্বারের অভ্যন্তরে ব্যবহৃত পরিষ্কারক রাসায়নিক এবং তাপীয় অভিঘাতের বিরুদ্ধে শক্তিশালী সুরক্ষা প্রদান করে।

OEM সিস্টেম সামঞ্জস্যতা

প্রচলিত ২০০মিমি/৩০০মিমি সিঙ্গেল-ওয়েফার এপি টুলস (অ্যাপ্লাইড মেটেরিয়ালস, এএসএম)-এর সাথে মানানসই করে নির্ভুল সিএনসি মেশিনিং করা।

প্রযুক্তিগত পরামিতি স্পেসিফিকেশন মান মান / পরীক্ষার পদ্ধতি
আবরণী উপাদান CVD β-SiC (ঘনকীয় দশা) উচ্চ-ঘনত্বের স্ফটিক কাঠামো
সাবস্ট্রেট উপাদান অতি-বিশুদ্ধ আইসোস্ট্যাটিক গ্রাফাইট ঘনত্ব: ১.৮২ - ১.৮৮ গ্রাম/ঘন সেন্টিমিটার
রাসায়নিক বিশুদ্ধতা মোট অশুদ্ধি < ৫ পিপিএম জিডিএমএস পরীক্ষিত
আবরণের পুরুত্ব ৮০ মাইক্রোমিটার - ১৫০ মাইক্রোমিটার অভিন্নতা ≤ ±৫%
হোয়াটসঅ্যাপ অনলাইন চ্যাট!